Промисловий інспекційний мікроскоп
-
BS-4020A Тринокулярний промисловий мікроскоп для обстеження пластин
Промисловий інспекційний мікроскоп BS-4020A був спеціально розроблений для перевірки пластин різного розміру та великих друкованих плат. Цей мікроскоп може забезпечити надійне, комфортне та точне спостереження. Завдяки ідеально виконаній структурі, оптичній системі високої чіткості та ергономічній операційній системі BS-4020A реалізує професійний аналіз і задовольняє різноманітні потреби дослідження та перевірки пластин, FPD, схемних пакетів, друкованих плат, матеріалознавства, точного лиття, металокераміки, прецизійних форм, напівпровідник та електроніка тощо.
-
BS-4020B Тринокулярний промисловий мікроскоп для обстеження пластин
Промисловий інспекційний мікроскоп BS-4020B був спеціально розроблений для перевірки пластин різного розміру та великих друкованих плат. Цей мікроскоп може забезпечити надійне, комфортне та точне спостереження. Завдяки ідеально виконаній структурі, оптичній системі високої чіткості та ергономічній операційній системі BS-4020B реалізує професійний аналіз і задовольняє різні потреби дослідження та перевірки пластин, FPD, схемних пакетів, друкованих плат, матеріалознавства, точного лиття, металокераміки, точних форм, напівпровідник та електроніка тощо.
-
Тринокулярний промисловий інспекційний мікроскоп BS-4000B
Мікроскопи серії BS-4000 спеціально розроблені для точного промислового контролю. Вони використовують нескінченну оптичну систему та об’єктив високої потужності на великій робочій відстані. Вони забезпечують видатну оптичну продуктивність і доступні для ІТ-індустрії, великомасштабних інтегральних схем, спостереження та тестування мікросхем.
-
Тринокулярний промисловий інспекційний мікроскоп BS-4000A
Мікроскопи серії BS-4000 спеціально розроблені для точного промислового контролю. Вони використовують нескінченну оптичну систему та об’єктив високої потужності на великій робочій відстані. Вони забезпечують видатну оптичну продуктивність і доступні для ІТ-індустрії, великомасштабних інтегральних схем, спостереження та тестування мікросхем.